梅特勒托利多新超越系列分析天平

梅特勒托利多新超越系列XSE分析天平Q球分析天平市場(chǎng)10年之際,梅特勒托利多于2014年推出新超越系列XPE/XSE新一代分析天平,將稱量智能化推向了*的高度!

XSE分析天平將J確稱量與眾多智能特性相結(jié)合，讓您的日常稱量任務(wù)變得無(wú)誤。您不僅可以體驗(yàn)到新超越系列分析天平提供的Z越稱量性能，更可以確保的法規(guī)*性，以及至高的過(guò)程安全性。

儀器無(wú)憂——我明白稱量很安全！

智能安全工具可監(jiān)控天平的狀態(tài)，以確保安全地開(kāi)始稱量任務(wù)。創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈(StatusLight)讓您只需看一眼即可了解稱量是否開(kāi)啟綠燈：執(zhí)行了新的天平校準(zhǔn)和日常測(cè)試，天平處于水平狀態(tài)且性能正常。

樣品無(wú)憂——再也不受靜電問(wèn)題困擾！

靜電是分析稱量過(guò)程面臨的主要挑戰(zhàn)。正常操作時(shí)，容器和樣品很容易吸附靜電荷，從而導(dǎo)致稱量誤差。電荷也可使粉末狀顆粒飄散，這在處理昂貴或有毒物質(zhì)時(shí)容易造成額外的問(wèn)題。新超越系列天平的智能靜電檢測(cè)和去靜電解決方案可避免稱量誤差，并使樣品處理更加簡(jiǎn)單安全。

梅特勒托利多新超越系列XSE分析天平過(guò)程無(wú)憂——減少錯(cuò)誤的又一里程碑！

梅特勒托利多的LabX軟件可顯著提升實(shí)驗(yàn)室的影響力，是過(guò)程安全性和管理稱量不確定性的*解決方案。LabX在提供基于天平觸摸屏的靈活的SOP用戶向?qū)Х矫妗Ｗ詣?dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和生成報(bào)告意味著再也不需要通過(guò)手工記錄，避免了抄錄誤差并確保了可追溯性。新超越系列天平輕松地滿足至高過(guò)程安全要求，并幫助您建立無(wú)紙化實(shí)驗(yàn)室。

狀態(tài)指示燈

狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開(kāi)始稱量任務(wù)。綠色表示天平準(zhǔn)備運(yùn)行，黃色表示天平通過(guò)TestManager連接至日常測(cè)試，紅色表示對(duì)天平失去平衡等錯(cuò)誤立即采取糾正措施。

使用天平觸摸屏，可在Test-Manager嵌入式軟件中進(jìn)行SOP測(cè)試。無(wú)論何時(shí)進(jìn)行測(cè)試，都會(huì)在屏幕上顯示消息，您只需遵循隨附的測(cè)試說(shuō)明即可。

稱量結(jié)果

除了稱量舒適度外，獲得的測(cè)量技術(shù)還在發(fā)揮著幕后作用，為您提供高的分辨率、較為快速和較可靠的結(jié)果以及低的小稱量值（僅14mg）！

XPE分析天平采用*的設(shè)計(jì)，將稱重傳感器和電子元件安裝在天平的背部。 您可獲得的利益：不受散熱影響且易于清潔，因此可獲得更好的稱量性能。 獲得的設(shè)計(jì)具備以下關(guān)鍵特征：

• SmartGrid技術(shù)能夠以較快速、清潔的方式完成稱量任務(wù)

• 內(nèi)部溫度控制(ITC)裝置無(wú)需單獨(dú)或外部電子元件即可確保獲得小稱量值。

• proFACT 版本確保性和溫度穩(wěn)定性并符合內(nèi)部測(cè)試規(guī)定 

良好的稱量規(guī)范

新型XSE和XPE分析天平依照GWP研發(fā)而成。 梅特勒托利多開(kāi)發(fā)出GWP(Good Weighing Practice)，作為安全選擇、校準(zhǔn)和操作稱重設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)化科學(xué)方法。GWP提供的可再現(xiàn)性稱重結(jié)果書面憑證符合當(dāng)前所有實(shí)驗(yàn)室和制造業(yè)的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。 關(guān)注穩(wěn)定的過(guò)程、*的產(chǎn)品質(zhì)量、精益制造或遵守法規(guī)的用戶可使用GWP作為選擇和校準(zhǔn)其稱重設(shè)備的基準(zhǔn)。